Ausstattung
                                        					   	
                                                 
                   
                        Ausstattung des LPT
- Diverse Anlagen für verschiedene Prozesse der additiven Fertigung
- Laserpulverauftragschweißen
 
- Laserstrahlschmelzen im Pulverbett
 
 
- 3D-Laserbearbeitungszelle für multi-kW Schweiß- und Schneidanwendungen
 
- Industrieroboter und Mehrachs-Lineartische
 
- Beschriftungslaser und Markiersystem
 
- 6-Achs-Mikromaterialbearbeitungsanlage mit dynamischer Strahlformungseinheit
 
- Mehrstrahl-Interferenz-Bearbeitungsstation zur Nanostrukturierung
 
 
 
 
- Mehrere Scheibenlaser ≤8 kW
 
- Mehrere Single-Mode-Faserlaser ≤2 kW
 
- Direkt-Diodenlaser 4 kW (Prototyp)
 
- KrF-Excimer-Laser >100 W
 
- Kurz-gepulste CO2– und Festkörperlaser mit >300 W Leistung und Pulsdauern im ns-Bereich
 
- Ultrakurzpulslaser mit <45 W mittlere Leistung und Pulsdauern von 100 fs bis 10 ps
 
 
 
 
- Gerät zur spanenden Nachbearbeitung im Bereich Additive Fertigung
 
- Passende Systemtechnik:
- Diverse Bearbeitungsoptiken zum Teil mit dynamischer Strahlablenkung
 
 
- Messtechnik zur Strahlcharakterisierung:
- Strahlprofilkameras und Hochleistungsstrahlprofilmessgeräte
 
- Wellenfrontsensoren, Leistungsmessgeräte, Autokorrelator etc.
 
 
 
 
 
- REM inklusive EBSD- und EDX/WDX-Analytik
 
- Mehrere Hochgeschwindigkeitskameras mit bis zu 1 MHz Bildaufnahmerate.
 
- Thermokamera und Pyrometer
 
- 3D-Laserscanning-Mikroskop
 
- Mikrohärtemessgerät
 
- Infrarotabsorptionsmessgeräte
 
 
 
 
- UV-VIS-IR-Spektrometer, Spektralphotometer, Spektralfluorometer
 
- Hochauflösendes OCT-System
 
- Arbeitsbereich gemäß Sicherheitsstufe S1 (und S2 bei Bedarf)
 
 
 
 
- Probenpräparationssysteme
- Schnittpräparation (Trennschleifer, Diamantdrahtsäge, Vibratom, Mikrotom)
 
- Ergänzende Ausstattung für diverse Einbett- und Ätzverfahren
 
- Voll- und semiautomatische Schleif- und Poliersysteme
 
 
- Diverse optische Mikroskope zur Schliffbildanalyse
- Hellfeld, Dunkelfeld, Differentialinterferenzkontrast